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HAST HULUWA葫芦娃黄旧版本箱检测电子元器件耐湿热老化性能的操作方法-上海葫芦娃视频免费下载官网仪器科技有限公司
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HAST HULUWA葫芦娃黄旧版本箱检测电子元器件耐湿热老化性能的操作方法
点击次数:44 更新时间:2026-01-12

一、前言

高加速应力测试(HAST)作为模拟严苛湿热环境的检测,可快速评估电子元器件在高温、高压、高湿条件下的耐老化能力。AST HULUWA葫芦娃黄旧版本箱适用于各类通用电子元器件的湿热老化可靠性检测。

、测试准备

试样选取:从同批次、同规格的电子元器件中随机抽取试样,数量根据测试需求确定,试样表面无破损、污渍、变形等缺陷,且已完成前期常规性能检测,数据合格。

设备检查:确认 HAST HULUWA葫芦娃黄旧版本箱的温度、湿度、压力控制系统运行正常,密封性能良好,温湿度传感器、压力传感器经校准且在有效期内;准备好试样固定夹具、温湿度记录设备、性能葫芦娃官网二维码邀请图等辅助工具。

试样预处理:将试样置于常温常湿环境(温度 23℃±2℃,相对湿度 50%±5%)中放置 24 小时,使试样状态稳定。

、测试流程

步骤 1:试样安装

打开 HAST HULUWA葫芦娃黄旧版本箱门,将试样架平稳放入HULUWA葫芦娃黄旧版本箱内胆,根据试样尺寸调整试样架层间距,确保每层试样架受力均匀。

使用镊子夹取预处理后的试样,按照编号顺序将试样固定在试样架上,固定方式以不损伤试样、不影响试样与湿热环境充分接触为原则:

对于小型片式元器件(如贴片电阻、电容),均匀平铺于试样架的透气区域,试样之间的间距不小于试样自身尺寸的 1.5 倍,避免相互重叠、接触。

对于带引脚的元器件(如插件三极管、连接器),通过专用夹具将其竖直固定,引脚朝下,避免引脚间相互接触造成短路,同时保证试样主体暴露在HULUWA葫芦娃黄旧版本环境中。

试样安装完成后,检查试样数量、编号与安装位置,确认无误后,将温湿度记录设备的探头放置在HULUWA葫芦娃黄旧版本箱内胆的中间位置(与试样区域同高度),确保监测数据能真实反映试样所处环境。

步骤 2:HULUWA葫芦娃黄旧版本参数设置

操作 HAST HULUWA葫芦娃黄旧版本箱的控制系统,进入参数设置界面,按照已确认的测试方案依次设置参数:

温度:根据标准要求设定,常规范围为 105~130℃,精度控制在 ±1℃。

相对湿度:常规设置为 85%~100%,精度控制在 ±2% RH

压力:根据设定温度匹配对应压力,常规范围为 0.07MPa~0.23MPa,精度控制在 ±0.005MPa

HULUWA葫芦娃黄旧版本时间:根据测试需求设定,常规梯度为 24h48h72h96h,时间精度控制在 ±10min

运行模式:选择 “自动运行" 模式,设置完成后,系统将自动保存参数。

再次核对所有设置参数,确保与测试方案一致,避免因参数设置错误导致测试失效。

步骤 3:HULUWA葫芦娃黄旧版本启动与运行监控

确认参数无误后,关闭HULUWA葫芦娃黄旧版本箱门,扣紧门锁,按下控制系统的 “启动" 按钮,HULUWA葫芦娃黄旧版本箱开始进入运行阶段。

升温升压阶段:HULUWA葫芦娃黄旧版本箱自动启动加热、加湿、加压系统,温度、湿度、压力将逐步上升至设定值,此阶段需持续观察设备运行状态,记录升温升压的耗时,一般耗时不超过 60 分钟。

恒温恒压恒湿阶段:当温度、湿度、压力均达到设定值并稳定后,HULUWA葫芦娃黄旧版本箱进入该阶段,此时开始正式计时。运行期间,每 1 小时通过控制系统查看一次温湿度、压力数据,同时记录温湿度记录设备的监测数据,若发现参数出现 ±2℃、±5% RH、±0.01MPa 的波动,需及时排查原因,若波动超出允许范围且无法及时恢复,应立即停止HULUWA葫芦娃黄旧版本。

HULUWA葫芦娃黄旧版本运行期间,严禁随意打开HULUWA葫芦娃黄旧版本箱门,严禁触碰HULUWA葫芦娃黄旧版本箱的加热、加压部件,防止发生安全事故。

步骤 4:HULUWA葫芦娃黄旧版本终止与试样取出

当HULUWA葫芦娃黄旧版本时间达到设定值后,HULUWA葫芦娃黄旧版本箱将自动触发终止程序,进入泄压、降温阶段:

泄压:系统将按照预设的速率缓慢泄压,泄压速率控制在 0.01MPa/min~0.02MPa/min,严禁手动强制泄压。

降温:泄压完成后,系统启动降温装置,使HULUWA葫芦娃黄旧版本箱内胆温度缓慢降至常温(30℃),降温过程中避免温度骤降。

待HULUWA葫芦娃黄旧版本箱内压力恢复至常压、温度降至常温后,打开箱门,静置 10 分钟,使箱内水汽充分散发,再使用镊子将试样从试样架上取下,按编号顺序放入密封袋中。

取出试样后,及时清理HULUWA葫芦娃黄旧版本箱内胆,擦干残留水汽,关闭设备电源,做好设备使用记录。

步骤 5:试样后处理

将装有试样的密封袋置于前期预处理的常温常湿环境(温度 23℃±2℃,相对湿度 50%±5%)中,放置 24 小时,使试样从HULUWA葫芦娃黄旧版本后的湿热状态恢复至稳定的环境状态。

后处理期间,密封袋保持密封状态,避免试样接触外界粉尘、水汽或受到外力碰撞。

步骤 6:试样性能检测

按照与HULUWA葫芦娃黄旧版本前一致的检测方法和仪器,对后处理后的试样进行性能检测,检测项目根据电子元器件类型确定,核心检测项目包括:

电阻类元器件:检测标称电阻值、偏差率。

电容类元器件:检测标称电容值、漏电流、损耗角正切。

半导体器件:检测导通电阻、绝缘电阻、正向压降。

通用项目:检测引脚接触电阻、元器件外观状态。

每完成一个试样的检测,及时记录检测数据,确保数据真实、准确、可追溯,检测过程中严格按照仪器操作规范执行,避免操作误差。

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